排序
4.5.4 区间下沿的次级测试
这是一次发生在结构低点位置的测试,并且产生了更低的最低价。它的形成源于卖方的强烈进攻性以及买方缺乏兴趣,这暗示未来很可能会对该区域进行更多的测试。这种类型的测试表明市场存在大量的潜...
4.5.2 B阶段的次级测试(Secondary Tests of Phase B,ST in B)
虽然“官方的”次级测试(ST)是出现在A阶段中的,但这一行为在结构发展的不同阶段中依然会持续出现。一旦进入B阶段,我们就应留意在区间上下两个极值位置出现的任何类型的测试行为。这种类型的...
5.2 B阶段:构建原因
B阶段由一系列连续的测试(B阶段的次级测试,ST in B)组成,这些测试可能发生在结构的上沿或下沿。上冲动作(UA)或上冲(UT);作为弱势迹象的次级测试(ST as SOW)或次弱势迹象(mSOW)。从...



